產(chǎn)品目錄 / Products
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激光粒子計(jì)數(shù)器CLJ-BII塵埃粒子計(jì)數(shù)器 產(chǎn)品已被廣泛應(yīng)用于微電子、醫(yī)院、制藥、醫(yī)療器械、生化制品、食品衛(wèi)生、精細(xì)化工、精密機(jī)械和航空航天等生產(chǎn)和科研部門,是制藥企業(yè)及其監(jiān)督管理部門貫徹GMP規(guī)范的*儀器。
更新時(shí)間:2024-08-29產(chǎn)品型號(hào):CLJ-BII執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): 美國(guó)ASTM F649-01標(biāo)準(zhǔn): “Standard Practice for Secondary Calibration of Airborne Particle Counter Using Comparison Procedures”
更新時(shí)間:2024-08-29產(chǎn)品型號(hào):HLC100A☆ 同時(shí)測(cè)試粒子數(shù)、環(huán)境溫度、相對(duì)濕度和風(fēng)速。 ☆ 可進(jìn)行5通道測(cè)試(0.3 0.5 1.0 3.0 & 5.0μm) ☆ 測(cè)試報(bào)告符合FS-209E.ISO14644-1及國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) ☆ 內(nèi)設(shè)延遲測(cè)試時(shí)間,可自行設(shè)定,避免人為干擾 ☆ 如果使用梯級(jí)連接可以成為一個(gè)多點(diǎn)的監(jiān)測(cè)系統(tǒng) ☆ 采樣時(shí)間、采樣次數(shù)、間隔時(shí)間可自行任意設(shè)置
更新時(shí)間:2024-08-29產(chǎn)品型號(hào):3886